WeifangCaixa de teste de envelhecimento acelerado de alta pressão HAST:A Câmara de Teste de Estresse Altamente Acelerada é usada para simular ambientes de alta temperatura e alta pressão do chip, realizando testes de envelhecimento acelerado durante um determinado tempo para testar a confiabilidade e a vida útil do chip no menor tempo possível, melhorando assim a qualidade e a confiabilidade do produto.

► A primeira pressão de incursão da indústria alcança a faixa de teste de 4KG,

► Design da porta da caixa automática, botão de controle da porta da caixa aberta, com proteção contra pressão,

► Algoritmo de controle PID integrado para garantir a precisão dos valores de temperatura, umidade e pressão,

► Compatível com os ensaios de aquecimento húmido constante (HAST) e cozimento a vapor à alta pressão (PCT) com vapor insaturado de alta pressão,

Cumprir os critérios de teste：

AEC Q101 (chip de nível automotivo)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Ensaio ambiental de produtos eletrônicos e eletrônicos Parte 2: Método de ensaio Cx: Calor úmido constante de vapor de alta pressão insaturado

IEC60068-2-66-1994 Ensaios ambientais. Partes 2-66: Métodos de Experimento. Teste Cx: calor úmido estável

Vida útil do deslocamento de temperatura e umidade do ciclo JESD22-A100

JESD22-A101 Temperatura estável, umidade / pressão parcial, teste de vida útil (vida parcial de temperatura e umidade)

JESD22-A102 Teste de vaporização de alta pressão (penetração anti-umidade acelerada)

JESD22-A108 Temperatura, tensão de desvio e vida útil

JESD22-A110 Ensaio de estresse de alta aceleração em temperatura e umidade HAST

JESD22-A118 TEMPERATURA E UMIDADE UHAST (vapor de alta tensão insaturado sem tensão)

* Pode personalizar qualquer parâmetro de especificação para modelos não padrão