Amostragem de alta potência para monitoramento em tempo realSistema de Monitoramento de Foco a Laser Industrial (ILMS)

Estados Unidos representados pelo Instituto de Óptica HeinerDatarayOferecendo aos usuários soluções de diagnóstico de análise a laser de alta qualidade, em alguns projetos científicos ou aplicações de produção, inevitavelmente encontrarão dois problemas: feixes de pequeno tamanho e alta potência.

O analisador de contorno de laser de foco é diferente do analisador de mancha que usa o princípio de boca de faca ou o princípio de fenda paraCMOSO analisador de mancha, que serve como principal componente de detecção, pode capturar o estado real da seção de feixe em tempo real através do fator de multiplicação de pixel no software (PMFÉ possível ultrapassar o limite do tamanho mínimo de medição do feixe da câmera, e diferentes configurações podem melhor atender às necessidades do usuário.

Sistemas de monitoramento a laser (ILMSSerá retratadoLensPlate2Componentes e amostradores polarizadores de alta potência (PPBScombinação, atravésWinCamD-LCMcomo equipamento de teste final,CMOSO sensor permite que o dispositivo apresente o valor real da seção do laser de detecção, e o analisador de mancha focada de alta potência amplia a cintura do feixe de luz para que ele seja apresentado a distâncias infinitas, enquanto amostra uma pequena parte da energia do feixe,LensPlate2A taxa de amplificação combinada permite medições bidimensionais de pontos de feixe de até alguns micrômetros.

ILMS usa um dispositivo óptico de amostragem de feixe e amplificação, atravésWinCamD-LCMO perfilador de imagem monitora a saída de fibra óptica de alta potência ou o foco do feixe.

Vale a pena notar que, independentemente do uso de laser de qualquer potência, é necessário seguir os protocolos de segurança do laser apropriados, vejaANSIZ136.1. Certifique-se de entender o curso da luz, incluindo cada reflexo através da superfície do vidro/estado de transmissão.PPBSO amostrador tem três buracos que liberam a radiação laser.Residual 1、Residual 2eOutputA maior parte da energia vai sair.Residual 1A potência esperada é alta99%A energia do feixe vai sair.Residual 1，Residual 2A saída pode ser inferior a1%ou permanecer em50%A saída específica depende do material, comprimento de onda e estado de polarização de entrada. Tenha cuidado e assuma que a armadilha do feixe (ou outro componente que absorve energia) estará quente.

Nota:650-1050 nmO limiar de dano das lentes de revestimento é1000 W/cme5.0 J/cm²

Factor de multiplicação de pixel (PMF）：

Durante o uso do software do analisador de perfil laser de foco de alta potência,Pixel Multiplication FactorDeve ser configurado corretamente para que o software se adapte automaticamenteILMSAmpliar o multiplicador. Factor de multiplicação de pixel (PMFDeve ser definido como o inverso do multiplicador de ampliação, por exemplo: o modelo éILMS-5X-LCMdo5Requisitos do sistema de monitoramento a laser industrialPMFO valor é0.2（1/5Como mostrado no gráfico abaixo, todas as mediçõesPMFO valor é mostrado quandoPMFQuando definido corretamente, não é necessário calcular manualmente os valores de correção.

Sistema de monitoramento de foco a laser industrial (ILMS(Design da lente:

Cada lente no LensPlate2 é projetada para oferecer o melhor desempenho para feixes próximos ao eixo em proporções de conjugação infinitas.Para lasers, isso significa que o feixe de cada lado da lente deve ser alinhado para obter o melhor desempenho, como mostrado na imagem.LensPlate2Calibrado para que quando o raio de luz entraWinCamDQuando o sensor de imagem, o foco da lente de saída seráWinCamD

Sensores de imagem coincidem.

As lentes de saída são alinhadas para satisfazer os requisitos de proporção de conjugação infinita para o melhor desempenho óptico.

Exemplo de proporção de conjugação infinitaDesempenho do eixoHeiner óptica ofereceDatarayProduzido em placas de lentes, este componente é geralmente projetado para medições no eixo usando lentes discoloradas ou não esféricas, cobrindo a maioria das aplicações de medição a laser. Aplicações que exigem uma imagem de deseixo melhor geralmente exigem objetivos de entrada corrigidos para imagem de deseixo. Esses objetos podem ser comprados de terceiros e vendidos como objetos de microscópio de correção remota ilimitada.